工具P 管制圖（不合格率）
P 管制圖（不合格率）
P 管制圖監控每批次的不合格品率（p = 缺陷數 / 樣本數）。適用於屬性資料（合格/不合格）。樣本數可以不同，管制界限會隨樣本數變動。
CSV 格式：defects（缺陷數）欄 + sample_size（樣本數）欄
使用情境
PCB 表面黏著製程中，每班抽樣 200 片，記錄焊接不良品數量。p 管制圖將不良率視覺化，讓品管人員即時發現焊料劣化、錫膏印刷偏移或貼片機精度下降等異常。 相比每次全數目視檢驗，p 管制圖提供統計上有意義的趨勢判讀，並自動計算管制界限作為行動觸發點。
計算範例
三批次不良品數：8, 12, 5，每批樣本量均為 200 件 p̄ = (8+12+5) / (200×3) = 25/600 = 0.0417（4.17%） UCL = p̄ + 3×√(p̄×(1-p̄)/n) = 0.0417 + 3×√(0.0417×0.9583/200) = 0.0417 + 0.0420 = 0.0837（8.37%） LCL = max(0, 0.0417 - 0.0420) = 0 → 批次 2（不良率 6%）接近 UCL，需調查原因
延伸閱讀：計數型管制圖選用指南
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